Hệ thống kiểm tra huỳnh quang tia X vi tiêu điểm SMX-2000
Hệ thống kiểm tra huỳnh quang tia X vi tiêu điểm SMX-2000
Thương hiệu: SHIMADZU| Tình trạng:
Còn hàng
Liên hệ
Model: SMX-2000
Hãng sản xuất: SHIMADZU
Xem thêm
Mô tả sản phẩm
Thiết bị là hệ thống kiểm tra bằng huỳnh quang tia X để quan sát và kiểm tra các cấu trúc bên trong và các điều kiện nén ép trong các thiết bị điện tử,
Thiết bị là sự kết hợp của hệ thống tia X mới có độ phân giải cao với một Detector dạng tấm phẳng phân giải cao để cho các ảnh trung thực và không bị biến dạng,
Quá trình kiểm tra được thiết kế thích hợp với các chức năng Teaching và Step Feed,
Độ phân giải không gian: 1 µm,
Kích thước mẫu tối đa: 470 mm × 420 mm × 100 mm, max. 5.0 kg,
Hành trình kiểm tra: X: 460 mm; Y: 410 mm; Z: 100 mm, Rotation: ±180°, Tilt: 70°,
Đầu ra tia X: Điện áp tối đa: 160 kV; Dòng điện: 200µA; công suất: 21 W,
Detector: Flat panel detector,
Độ phóng đại: 8,700 lần,
Nguồn điện cấp: Dòng một pha 220 V AC ±10%, 2 kVA,
